跳線的調(diào)試：元件類型為J，測試模式通常為0 。當(dāng)短路時，標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定為1 ，開路時設(shè)定為4即可。
電阻的調(diào)試：元件類型為R，測試模式為0、1、2三種。在無并聯(lián)情況下，標(biāo)準(zhǔn)值與實際值應(yīng)相同。設(shè)定好之后，按F7鍵作自動調(diào)整。如若不良可選擇加延遲、隔離點、更改測試模式等。
電容的調(diào)試：元件類型為C，測試模式為0、1、2、4、8等，小電容通常用0、1、2三種。uF級電容選用4、8兩種。調(diào)試方式與電阻相同。
二極管的調(diào)試：元件類型為D，測試模式為0、1兩種。在調(diào)試時需注意作正反方向測試，防止因并聯(lián)等因素，無法準(zhǔn)確測試出元件的極性。
三極管的調(diào)試：元件類型為Q，測試模式為0、1、3、4四種，0、1模式對三極管的PN結(jié)作二極管測試。3、4作三極管的導(dǎo)通測試，3對應(yīng)為PNP型三極管，4對應(yīng)為NPN型三極管。
IC元件的調(diào)試：該類元件由設(shè)備軟件自動學(xué)習(xí)產(chǎn)生測試步驟。學(xué)習(xí)前需到IC資料編輯下注明每顆IC的接地腳與電源腳所對應(yīng)的腳位編號即可。產(chǎn)生的測試步聚如遇測試不穩(wěn)定，通常增加延遲即可。
元件在調(diào)試時，如遇電阻測試開路。則說明設(shè)備送出的信號沒有探測到元件，可能出現(xiàn)的問題有：
1 、待測板本身少件、錯件
2 、測試針與測試點不對位，偏移
3、 設(shè)備排線問題
4、 設(shè)備開關(guān)通道板問題
元件在調(diào)試時，如遇電阻變小，則說明有并聯(lián)或者短路現(xiàn)象?？赡艹霈F(xiàn)的問題有：
1、 待測板有短路
2、 該元件存在并聯(lián)
3、 元件錯件
       以上是以電阻為例，電容的調(diào)試恰恰與電阻相反，不一一列舉。在生產(chǎn)過程中，通常出現(xiàn)更換一次測試機后，就有測試不良的現(xiàn)象。這是因為，機器與治具連接的排線，在每次連接后的阻抗與排線的分布電容值不一樣，對設(shè)備送出測試信號衰減的大小也不一樣。故需作優(yōu)化校準(zhǔn)程式。
       建議對設(shè)備的使用與維護(hù)需有專人管理保養(yǎng)，并對管理人員作系統(tǒng)的培訓(xùn)。了解設(shè)備的運行是否良好，對常見故障的分析處理。